D8 DISCOVER - Nuevos límites en el nanomundo

El D8 DISCOVER trae soluciones de capas finas innovadoras de la investigación al control de calidad, al desarrollo de productos y procesos.

Basado en la plataforma D8 con sistema mecánico fiable y diseño ergonómico, el D8 DISCOVER incluye un gran numero de ventajas únicas:

Espejos Goebel de la tercera generación suministrando la más alta densidad de rayos X – esencial para las aplicaciones de capa fina.
El sistema entero se ha diseñado para el manejo fácil sin errores. Herramientas como el absorbador motorizado permiten el manejo enteramente automático sin intervención del usuario.
Sistemas ópticos de alto rendimiento pueden elegirse y cambiarse para alcanzar la óptima resolución para cada aplicación y muestra.
El manejo de muestras óptimo saca provecho de los nuevos cambiamuestras UMC y de diferentes tipos de balanza Euler para investigaciones de tensión residual, textura y microdifracción. Portamuestras especiales permiten aun estudios de temperatura para la reflectometría de rayos X de recubrimientos o semiconductores.
Tiempos de medida muy cortas se obtienen utilizando el detector Ultra GID para capas de nanómetros y el detector VANTEC-1 para mapas de espacio recíproco.
XRD Wizard y XRD Commander ayudan al usuario a realizar amplias medidas de manera intuitiva, scripts inteligentes se ocupan del trabajo de rutina. Los programas de evaluación LEPTOS y MULTEX garantizan que Vd. queda en su posición líder de la ciencia.

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